一種電子標(biāo)簽的加速壽命試驗可靠性預(yù)測方法研究
所屬分類：技術(shù)論文
上傳者：wwei
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標(biāo)簽： 壽命加速 激活能 性能退化
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文檔介紹：隨著微電子元器件設(shè)計能力和工藝技術(shù)的不斷發(fā)展,，器件的可靠性和壽命不斷增加,。射頻識別電子標(biāo)簽具有需求量大、應(yīng)用范圍廣,、地域（使用溫度）跨度大等特點,，這就對產(chǎn)品本身的可靠性提出了較高的要求，研究器件在高低溫下的退化特性具有重要的現(xiàn)實意義,?；贏rrhenius理論提出了一種快速計算電子標(biāo)簽激活能的方法，對電子標(biāo)簽進行短時間的壽命加速試驗,，通過標(biāo)簽電場強度性能的退化數(shù)據(jù)預(yù)測壽命情況,，快速求解電子標(biāo)簽的激活能，進而計算出不同溫度條件下的加速因子,，為電子標(biāo)簽在不同壽命評價標(biāo)準(zhǔn)下的加速試驗時間提供理論依據(jù),。
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