基于ARM的鋼鐵材料裂紋電磁無(wú)損檢測(cè)電路設(shè)計(jì) | |
所屬分類:參考設(shè)計(jì) | |
上傳者:aet | |
文檔大?。?span>783 K | |
標(biāo)簽: ARM | |
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文檔介紹:針對(duì)鋼鐵材料損傷檢測(cè)問(wèn)題,依據(jù)電磁無(wú)損檢測(cè)原理,,在ARM微處理器系統(tǒng)的基礎(chǔ)上,,優(yōu)化設(shè)計(jì)了一套以S3C2440A控制芯片為核心的鋼鐵件裂紋檢測(cè)電路,。簡(jiǎn)單地討論了初始磁導(dǎo)率法的檢測(cè)原理,,著重闡述了系統(tǒng)功能模塊的電路設(shè)計(jì),。試驗(yàn)表明,,該電路可以快速地檢測(cè)出鋼鐵材料損傷的存在并且及時(shí)發(fā)出報(bào)警,同時(shí)能夠?qū)?shù)據(jù)進(jìn)行顯示和存儲(chǔ),。 | |
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