基于MC8051內(nèi)核的便攜幅頻特性測(cè)試儀設(shè)計(jì)
所屬分類(lèi)：技術(shù)論文
上傳者：aet
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文檔介紹：為滿(mǎn)足實(shí)際工程應(yīng)用的需要,，研制了以嵌入式MC8051內(nèi)核為核心技術(shù)的便攜式幅頻特性測(cè)試儀,。系統(tǒng)以Xilinx公司生產(chǎn)的型號(hào)為XC3S400的FPGA芯片為硬件處理核心，以MC8051內(nèi)核作為用戶(hù)交互界面設(shè)計(jì)的控制核心,。采用“正弦查找表IP核+D/A”的方式實(shí)現(xiàn)DDS技術(shù)并產(chǎn)生系統(tǒng)掃頻信號(hào),，以異步FIFO作為FPGA與MC8051內(nèi)核之間數(shù)據(jù)傳輸?shù)木彺婺K,，同時(shí)采用TFT彩屏液晶進(jìn)行顯示界面設(shè)計(jì),。
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