嵌入式系統(tǒng)內(nèi)存檢測(cè)分析
所屬分類(lèi)：技術(shù)論文
上傳者：aet
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文檔介紹：在大部分嵌入式系統(tǒng)中,，內(nèi)存的好壞主要依賴(lài)于內(nèi)存芯片廠家的檢測(cè),，對(duì)系統(tǒng)運(yùn)行中出現(xiàn)的內(nèi)存偶然故障，缺乏有效的檢測(cè)手段,。對(duì)嵌入式系統(tǒng)中內(nèi)存檢測(cè)的各個(gè)階段,、內(nèi)存檢測(cè)方式以及全空間檢測(cè)方法等進(jìn)行了詳細(xì)描述。
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