行為級(jí)模型功能比對(duì)驗(yàn)證的自動(dòng)方法學(xué)[模擬設(shè)計(jì)][其他]

在混合信號(hào)芯片設(shè)計(jì)領(lǐng)域,,Verilog/Systemverilog/VHDL等行為級(jí)模型被廣泛應(yīng)用于描述模擬和混合信號(hào)模塊的電路特性,,用以幫助實(shí)現(xiàn)更快速全面的全芯片功能驗(yàn)證。為了保證正確,、有效和全面的全芯片功能驗(yàn)證,,電路模塊的行為級(jí)模型和晶體管級(jí)設(shè)計(jì)之間的功能比對(duì)驗(yàn)證(Behavior vs.Schematic,,BVS)非常關(guān)鍵。在此之前,,利用現(xiàn)有的EDA工具,,只能進(jìn)行邏輯狀態(tài)的BVS矢量檢查,而不能進(jìn)行實(shí)數(shù)類型的矢量檢查,。為了更好地描述模擬和混合信號(hào)模塊的行為特性,,采用了Wreal模型和SV-UDT(Systemverilog-User Defined Type), 因此對(duì)EDA工具提出了新的要求,需要其支持實(shí)數(shù)類型的矢量檢查,。本文描述了一種行為級(jí)模型功能比對(duì)驗(yàn)證的自動(dòng)方法學(xué),,基于Cadence XPS仿真器的矢量檢查功能,可以同時(shí)實(shí)現(xiàn)邏輯狀態(tài)和實(shí)數(shù)類型的自動(dòng)比對(duì)檢查,。實(shí)數(shù)類型矢量檢查是向EDA供應(yīng)商Cadence提出的一種新的概念和需求,,且已經(jīng)在XPS仿真器中成功實(shí)現(xiàn)。

發(fā)表于:8/13/2019 2:51:00 PM