惠瑞捷推出半導(dǎo)體行業(yè)首創(chuàng)可擴(kuò)展測(cè)試機(jī)臺(tái)系列 -V93000 Smart Scale平臺(tái),降低新一代 IC 的測(cè)試成本
2011-09-19
CUPERTINO, Calif.– 2011 年9月19日——Advantest 集團(tuán)(東京證券交易所:6857,;紐約證券交易所:ATE)旗下企業(yè)惠瑞捷發(fā)布了業(yè)界首創(chuàng)可擴(kuò)展,、高性價(jià)比的測(cè)試機(jī)臺(tái)系列,,可用來(lái)測(cè)試28 納米及更小尺寸工藝和3D 架構(gòu)的芯片,。
Smart Scale 系列是具備先進(jìn)通道卡功能的創(chuàng)新一代“智能”測(cè)試機(jī)臺(tái),,與惠瑞捷久經(jīng)大生產(chǎn)考驗(yàn)的V93000 平臺(tái)完全相容,。智能測(cè)試意味著每個(gè)通道卡具有獨(dú)立的時(shí)鐘域,,通過(guò)匹配受測(cè)器件的準(zhǔn)確數(shù)據(jù)率要求,,實(shí)現(xiàn)全面的測(cè)試覆蓋率,。配合電源調(diào)制,、抖動(dòng)注入和協(xié)議通訊等其他重要特性,系統(tǒng)級(jí)壓力測(cè)試如今可在ATE 層執(zhí)行,,提高了故障模型覆蓋范圍,。
“憑借我們創(chuàng)新的V93000 Smart Scale系列的測(cè)試系統(tǒng)和通道卡,惠瑞捷在智能測(cè)試解決方法方面取得領(lǐng)先,,這些方法提供了定制的解決方案,,可以為客戶降低測(cè)試成本。”Advantest 集團(tuán)旗下企業(yè)惠瑞捷的Hans-Juergen Wagner (片上系統(tǒng)(SOC) 測(cè)試部執(zhí)行副總裁)表示,。
四個(gè)等級(jí)的Smart Scale 測(cè)試機(jī)臺(tái)(A類,、C類、S類和L類)分別有不同的測(cè)試頭尺寸,,使惠瑞捷可為每個(gè)客戶提供最高效的特定應(yīng)用解決方案,。
Wagner 補(bǔ)充道:“由于每個(gè)等級(jí)的測(cè)試機(jī)臺(tái)彼此完全相容,當(dāng)芯片的產(chǎn)量在設(shè)備生命周期內(nèi)變更時(shí),,用戶可快速輕松地把半導(dǎo)體器件從一個(gè)等級(jí)移至另一等級(jí)的Smart Scale機(jī)臺(tái),。目前沒(méi)有其他自動(dòng)測(cè)試設(shè)備供應(yīng)商有能力生產(chǎn)具有此功能的機(jī)臺(tái)。”
惠瑞捷的獨(dú)特技術(shù)提高了并行測(cè)試的能力,并帶來(lái)了行業(yè)內(nèi)第一個(gè)針對(duì)晶圓測(cè)試的全性能的解決方案,可以滿足高階的片上系統(tǒng)(SOC)器件,、系統(tǒng)級(jí)封裝(SiP)器件和晶圓級(jí)芯片尺寸封裝(WLCSPs) 的重要性能的測(cè)試需求,。
V93000 Smart Scale 測(cè)試機(jī)臺(tái)推出同時(shí),惠瑞捷還發(fā)布了三款新的數(shù)字通道卡,。
新的Pin Scale 1600 數(shù)字卡和Pin Scale 1600-ME(存儲(chǔ)器仿真)卡為每個(gè)數(shù)字通道提供了行業(yè)最廣泛的能力范圍,。除了提供從DC 到每秒1.6 千兆比特(Gbps,早期系列的雙倍速率)的數(shù)據(jù)率范圍,,這些卡還達(dá)到了先前通道卡密度的兩倍或四倍,。高度集成、小外型封裝的新卡具有惠瑞捷clock-domain-per-pin™,、protocol-engine-per-pin™,、PRBS per pin 和SmartLoop™ 等測(cè)試能力,可滿足對(duì)稱高速接口的測(cè)試要求,。此外,,這些卡具有精確DC 能力,并可執(zhí)行高效的多路并行異步測(cè)試以及并發(fā)測(cè)試,。
惠瑞捷的新款Pin Scale 9G 卡使實(shí)速測(cè)試具備了經(jīng)濟(jì)性,。它Pod將高達(dá)8 Gbps 的數(shù)據(jù)率和與Pin Scale 1600同樣的per pin通用性相結(jié)合,盡量提高通道使用率,,并盡量減少閑置資源,。Pin Scale 9G 卡支持所有通道的雙向功能,以及單端和差分模式,。還可執(zhí)行有向量和無(wú)向量測(cè)試,,滿足絕大多數(shù)測(cè)試需要,包括面向設(shè)計(jì)驗(yàn)證的并行I/O 測(cè)試,,以及大批量生產(chǎn)中的串行物理層(PHY) 測(cè)試,。
關(guān)于Advantest集團(tuán)旗下企業(yè)惠瑞捷
惠瑞捷制造先進(jìn)的半導(dǎo)體測(cè)試系統(tǒng),為全球設(shè)計(jì)驗(yàn)證,、特性化和大批量生產(chǎn)測(cè)試的領(lǐng)先企業(yè)提供解決方案,。惠瑞捷提供用于多種片上系統(tǒng)(SOC) 測(cè)試解決方案,,還有用于閃存,、高速存儲(chǔ)器和多芯片封裝(MCP) DRAM 的存儲(chǔ)器測(cè)試等可擴(kuò)展平臺(tái)?;萑鸾葸€提供先進(jìn)的分析工具,,可加快設(shè)計(jì)調(diào)試和產(chǎn)量提升流程。如需了解有關(guān)Advantest集團(tuán)旗下企業(yè)惠瑞捷的詳細(xì)信息,,可訪問(wèn)www.verigy.com,。如需了解有關(guān)Advantest的信息,可訪問(wèn)www.advantest.com。