《電子技術(shù)應(yīng)用》
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利用 SPICE 設(shè)計 TEC 溫度環(huán)路 PID 控制
摘要: 作者:MathewHann,,德州儀器(TI)SAR產(chǎn)品線經(jīng)理使用模擬比例積分微分(PID)控制器的溫度控制是一種非常簡單的電路,,是確保熱電冷卻器(TEC)的設(shè)置點能夠?qū)囟然蛘呒す膺M行調(diào)節(jié)的有效方法。比例積分項協(xié)同EETOPTI社區(qū)
Abstract:
Key words :

使用模擬比例積分微分 (PID) 控制器的溫度控制是一種非常簡單的電路,,是確保熱電冷卻器 (TEC) 的設(shè)置點能夠?qū)囟然蛘呒す膺M行調(diào)節(jié)的有效方法,。比例積分項協(xié)同工作,,精確地伺服TEC的電流,以維持控制器的溫度設(shè)置點,。與此同時,,微分項對完成上述工作的速率進行調(diào)節(jié),從而優(yōu)化總體系統(tǒng)響應(yīng),。如果可以對總體系統(tǒng)響應(yīng)H (s) 進行描述,,則為其設(shè)計 PID 控制器G (s) 的最為方便和有效的方法是利用 SPICE 進行仿真。

步驟1:確定SPICE模型的TEC/Temp傳感器熱阻抗,。

要想把 SPICE 作為 PID 環(huán)路設(shè)計的一種有效工具,,獲取溫度環(huán)路的熱響應(yīng)非常重要,,目的是獲得 PCB?TEC? 激光二極管? 溫度傳感器接線的實際熱敏電阻、電容和傳輸函數(shù),。記住,,由于實際熱特性會出現(xiàn)高達(dá)50%的變化,因此最好是向?qū)嶋H系統(tǒng)注入一個熱步進輸入,,并對其進行測量,,以獲得最佳的 SPICE 仿真熱模型。

如果對熱連接線進行描述,,請使用“外環(huán)路,、內(nèi)環(huán)路”程序來確定G (s) 模塊中控制放大器的總體環(huán)路響應(yīng)和穩(wěn)定性。在所有情況下,,都會使用一個非常大的電感來中斷外環(huán)路和內(nèi)環(huán)路,,并通過一個大電容器和 AC 電源激勵環(huán)路。

步驟 2:中斷G(s)和H(s)之間的外環(huán)路

外環(huán)路定義為圍繞G(s)和H(s)模塊的一條通路,。使用圖 1 進行模擬的目標(biāo)是中斷外環(huán)路,獲得H(s),、G(s)和總環(huán)路增益,,以驗證熱環(huán)路穩(wěn)定性。這種情況下,,圖 2 顯示相位降至零度以下,,而環(huán)路增益變?yōu)?0 dB,其表明整個環(huán)路不穩(wěn)定,。因此,,改變 G(s)應(yīng)加強 PID 控制,并增加溫度環(huán)路的穩(wěn)定性,。

圖 1 仿真電路獲得環(huán)路增益和相位

圖 2 圖 1 的環(huán)路增益和相位曲線圖

圖 3 中改進型G (s) 模塊包括 PID 組件,。微分電路的角頻由 R7 和 C3 設(shè)定;R3 設(shè)置比例增益,;C2 和 R6 設(shè)置積分電路角頻,。

圖 3 補償G (s) 的仿真電路

步驟3:中斷G(s)“內(nèi)環(huán)路”,確定本地放大器穩(wěn)定性

構(gòu)建完整 PID 組件的最后一步是中斷內(nèi)環(huán)路,,檢查本地放大器 (OPA2314) 的穩(wěn)定性,,從而確保其穩(wěn)定性與總環(huán)路增益無關(guān)。在這種情況下,,放大器要求使用一個50 pF電容器(請參見圖 4),,以維持本地環(huán)路的穩(wěn)定運行。

圖 4 經(jīng)過補償?shù)谋镜谿 (s) 環(huán)路的最終電路

下次,,我們將討論一種 20W 放大器毀掉 100W 揚聲器的糟糕設(shè)計,,敬請期待,。

參考文獻

  • 《運算放大器穩(wěn)定性,第2部分(共15部分):運算放大器網(wǎng)絡(luò),,SPICE分析》,,作者:Green, Timothy,發(fā)表于2006年《En-Genius》(原《模擬地帶》),。
  • 《熱電冷卻器的 PSPICE 兼容等效電路》,,作者:Simon Lenvkin, Sam Ben-Yaakov,發(fā)表于2005年“電力電子專家大會” PESC '05. IEEE 36th,。
  • 《包括熱效應(yīng)在內(nèi)的熱電元件SPICE模型》,,作者Chavez, J.A., Salazar, J, Ortega, J.A.和Garcia, M.J.,發(fā)表于2000年“儀器測試與測量技術(shù)大會”第17屆IEEE會議記錄,。
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