《電子技術(shù)應(yīng)用》
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基于EPC Gen2協(xié)議的UHF RFID有源電子標(biāo)簽設(shè)計
來源:電子技術(shù)應(yīng)用2012年第8期
吳小龍,張紅雨
電子科技大學(xué) 電子工程學(xué)院,,四川 成都611731
摘要: 提出了一種基于EPC Gen2協(xié)議的UHF RFID(Radio Frequency Identification)有源電子標(biāo)簽設(shè)計方法,。標(biāo)簽硬件電路分為三個部分——反射電路,、接收電路和基帶控制電路。通過理論分析提出一種低誤碼率的反射電路設(shè)計方案,,接收電路采用雙通道正交解調(diào)方案,,采用FPGA芯片EP1C3T100C6完成基帶控制電路設(shè)計。利用讀寫器對標(biāo)簽進行測試,,示波器,、頻譜儀和上位機程序所得結(jié)果均表明標(biāo)簽工作正常。
關(guān)鍵詞: RFID 標(biāo)簽 反射 FPGA
中圖分類號: TP29
文獻標(biāo)識碼: A
文章編號: 0258-7998(2012)08-0010-03
Design of an UHF RFID active tag based on EPC Gen2 protocol
Wu Xiaolong,,Zhang Hongyu
School of Electronic Engineering, University of Electronic Science and Technology of China,,Chengdu 611731,China
Abstract: A kind of UHF RFID active tag design method based on EPC Gen2 is presented in this paper. Tag’s hardware circuit is made of three parts: reflex circuit, receiving circuit and baseband control circuit. By theoretically analyzing, a low bit-error-rate design proposal is presented for the reflex circuit. Two-channel quadrature demodulation program is adopted to design the receiving circuit. And an FPGA chip(EP1C3T100C6) is adopted to design the baseband control circuit. Using a reader to test the tag, testing results of oscilloscope, frequency spectrograph and upper computer show that tag works well.
Key words : RFID,;tag,;FPGA;reflex

    目前符合EPC Gen2[1]協(xié)議的電子標(biāo)簽基本都是無源標(biāo)簽,,工作所需能量來自讀寫器發(fā)送的射頻信號,,即波束供電。因此工作距離,、存儲容量等受到能量來源的限制,。為了彌補無源標(biāo)簽的不足,本次研究提出了有源RFID電子標(biāo)簽的設(shè)計方案,。

1 UHF RFID電子標(biāo)簽工作原理
    讀寫器在發(fā)送完控制命令后,,會一直發(fā)送空載波CW,,標(biāo)簽通過反向散射調(diào)制的方式將回傳的信息調(diào)制到CW上。該方式通過改變標(biāo)簽天線的負載阻抗來實現(xiàn)[2],。通常,,一種阻抗處于失配狀態(tài),另一種阻抗處于匹配狀態(tài),,通過基帶電路控制“阻抗開關(guān)”來完成信號“1”和“0”的傳輸[3],。
2 電子標(biāo)簽的硬件電路設(shè)計
    電子標(biāo)簽包含射頻反射電路、射頻接收電路和基帶控制電路,,如圖1所示,。


2.1 射頻反射電路設(shè)計
    電子標(biāo)簽通過射頻開關(guān)改變天線的負載阻抗來實現(xiàn)反向散射調(diào)制。在不同負載阻抗下,,天線的雷達截面RCS也不一樣,。參考文獻[4]指出,匹配時的RCS0與失配時的RCS1之差的絕對值ΔRCS越大,,反射的誤碼率越低,。如式(1):
    
可取得最大值。為了達到上述目的,,將射頻開關(guān)的一端接匹配負載,,另一端懸空。
2.2 射頻接收電路設(shè)計
    射頻接收電路由低噪放微帶線移相電路,、包絡(luò)檢波電路,、低通濾波電路、差分放大器和電壓比較器構(gòu)成,。信號首先經(jīng)過低噪放放大,;然后進入50 Ω微帶線產(chǎn)生兩路正交信號;接著由包絡(luò)檢波并通過低通濾波器將高頻成分濾除即可得到兩路基帶信號,。經(jīng)過差分放大器和電壓比較器后可得到PIE編碼波形,。
3 UHF RFID電子標(biāo)簽基帶程序設(shè)計
    基帶程序主要包括接收模塊、主狀態(tài)機和發(fā)送模塊,。
3.1 接收模塊設(shè)計
    如圖2所示,,PIE解碼狀態(tài)機定義了如下7種狀態(tài):
    (1)S_idle狀態(tài):解碼開始或結(jié)束時,解碼狀態(tài)機處于S_idle狀態(tài),。
    (2)S_delim狀態(tài):判斷delim(間隔符)低電平持續(xù)時間是否滿足12.5 ?滋s±5%,。
    (3)S_data0狀態(tài):測量Tari的時間長度。
    (4)S_rtcal狀態(tài):判斷RTcal時間長度是否滿足2.5Tari≤RTcal≤3.0Tari,。
    (5)Trcal_or_work_h狀態(tài):判斷TRcal時間長度是否滿足1.1RTcal≤TRcal≤3.0RTcal,。
    (6)S_work_h狀態(tài):記錄高電平持續(xù)時間。
    (7)S_work_l狀態(tài):在信號上升沿判斷數(shù)據(jù)是0或1,。

3.2 主狀態(tài)機設(shè)計
    主狀態(tài)機實現(xiàn)EPC Gen2協(xié)議規(guī)定的7種狀態(tài):Ready,、Arbitrate、Reply,、Acknowledged,、Open、Secured與Kill,。根據(jù)所處狀態(tài)調(diào)用相關(guān)功能模塊,,常見的操作有讀寫存儲器、使能發(fā)送模塊應(yīng)答讀寫器等,。
3.3 發(fā)送模塊設(shè)計
    FM0編碼狀態(tài)機如圖3所示,,其定義了如下7種狀態(tài):
    (1)S_idle狀態(tài):編碼器起始狀態(tài)。
    (2)S_pilot狀態(tài):添加導(dǎo)頻音,。
    (3)S_sync狀態(tài):添加前同步碼“00101011”此處“V”由數(shù)據(jù)1代替,。
    (4)S1狀態(tài):輸出11。
    (5)S2狀態(tài):輸出10,。
    (6)S3狀態(tài):輸出01,。
    (7)S4狀態(tài):輸出00。

    (1)S_idle狀態(tài):編碼器起始狀態(tài),。
    (2)S_pilot狀態(tài):添加導(dǎo)頻音,。
    (3)S_sync狀態(tài):添加前同步碼“010111”。
    (4)S1狀態(tài):M=2時輸出1010,,M=4時輸出10101010,,M=8時輸出1010101010101010。
    (5)S2狀態(tài):M=2時輸出1001,,M=4時輸出10100101,,M=8時輸出1010101001010101。
    (6)S3狀態(tài):M=2時輸出0110,,M=4時輸出01011010,,M=8時輸出0101010110101010。
    (7)S4狀態(tài):M=2時輸出0101,,M=4時輸出01010101,,M=8時輸出0101010101010101。
4 UHF RFID電子標(biāo)簽測試結(jié)果
    標(biāo)簽實物如圖5所示,。

 

 

    讀寫器讀取標(biāo)簽的EPC,、TID、USER 3個存儲區(qū)的數(shù)據(jù)后傳到上位機程序,,所得的測試結(jié)果如圖6所示,。

    本文采用Cyclone系列芯片EP1C3T100C6及相關(guān)射頻芯片,設(shè)計了一種符合EPC Gen2協(xié)議的有源電子標(biāo)簽,。測試結(jié)果表明電子標(biāo)簽工作性能穩(wěn)定,。板級電子標(biāo)簽的設(shè)計為標(biāo)簽的芯片設(shè)計提供了可靠的保證,,降低了流片的風(fēng)險。
參考文獻
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[3] NIKITIN P V,,SESHAGIRI K V R,,LAM S F,et al.Power reflection coefficient analysis for complex impedances in  RFID tag design[J].IEEE Transactions on Microwave Theory and Techniques,,2005,,53(9):2721-2724.
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