文獻(xiàn)標(biāo)識(shí)碼: A
DOI:10.16157/j.issn.0258-7998.180729
中文引用格式: 杜濤,蔡紅艷,,梁科,,等. 一種新型帶隙基準(zhǔn)源設(shè)計(jì)[J].電子技術(shù)應(yīng)用,2018,,44(11):9-12,,16.
英文引用格式: Du Tao,Cai Hongyan,,Liang Ke,,et al.Design of a novel bandgap reference[J]. Application of Electronic Technique,,2018,44(11):9-12,,16.
0 引言
基準(zhǔn)電路廣泛應(yīng)用于模擬、數(shù)字及混合電路之中,,它們?yōu)殡娐穯卧峁┗酒?,電路設(shè)計(jì)中常使用帶隙電路產(chǎn)生所需要的基準(zhǔn)電壓[1]。傳統(tǒng)的帶隙基準(zhǔn)采用一階補(bǔ)償方法,,溫度系數(shù)(Temperature Coefficient,,TC)很難降低到20 ppm/℃以下。但是在高精度模數(shù)轉(zhuǎn)換器,、晶振電路,、運(yùn)算放大器和鎖相環(huán)等應(yīng)用電路中,對(duì)基準(zhǔn)的穩(wěn)定性提出了更高的要求,,進(jìn)一步降低基準(zhǔn)電壓的溫度系數(shù)始終是基準(zhǔn)電路的重點(diǎn)研究方向[2],。為了在傳統(tǒng)一階補(bǔ)償?shù)幕A(chǔ)上進(jìn)一步改善電壓基準(zhǔn)的溫度系數(shù),需要考慮消除電路中存在的非線性誤差項(xiàng),。
1 傳統(tǒng)帶隙基準(zhǔn)的原理分析
傳統(tǒng)帶隙基準(zhǔn)是基于正溫度系數(shù)電壓同負(fù)溫度系數(shù)電壓按比例相加抵消溫度相關(guān)項(xiàng),,從而得到一個(gè)近似與溫度無(wú)關(guān)的基準(zhǔn)電壓[3],如圖1所示,。
MP1,、MP2和MP3具有相同的寬長(zhǎng)比,Q1和Q2是與標(biāo)準(zhǔn)CMOS工藝兼容的PNP型三極管,Q1的發(fā)射結(jié)面積是Q2的n倍,。若IC表示集電極電流,,IS表示正向偏置時(shí)三極管的飽和電流,則流過(guò)Q1和Q2的集電極電流IC1=IC2,,飽和電流IS1=nIS2,。PNP型三極管的發(fā)射極-基極電壓VEB通常可以表示為:
其中kT/q=VT表示熱電壓,,k為玻爾茲曼常數(shù),,T為熱力學(xué)溫度,q表示電荷量的大小,,同時(shí)此處忽略了厄利電壓的影響,,通常VEB具有負(fù)溫度特性,即與熱力學(xué)溫度呈互補(bǔ)關(guān)系(Complementary To Absolute Temperature,,CTAT)[4],。運(yùn)放輸入端的電壓VX=VY,因此流過(guò)電阻R1的電流IR1為:
根據(jù)參考文獻(xiàn)[4]可知,,熱電壓VT的溫度系數(shù)為85 μV/℃,,VEB電壓的溫度系數(shù)約為-1.6 mV/℃,調(diào)整n,、R1,、R2就可以得到一個(gè)近似與溫度無(wú)關(guān)的基準(zhǔn)電壓。傳統(tǒng)帶隙基準(zhǔn)的輸出電壓通常固定在1.2 V左右,,這也限制了一階補(bǔ)償帶隙基準(zhǔn)在低電源電壓條件下的應(yīng)用。同時(shí),,PTAT電壓只能抵消VEB中與溫度相關(guān)的一次項(xiàng),,而CMOS帶隙基準(zhǔn)電路非理想性的原因主要是VEB電壓與溫度有高階依賴關(guān)系[4]。為了進(jìn)一步降低基準(zhǔn)電壓的溫度系數(shù),,需要添加額外的電路對(duì)VEB中的非線性項(xiàng)進(jìn)行補(bǔ)償,,進(jìn)而提出了本文中的新型電路結(jié)構(gòu)。
2 新型電壓基準(zhǔn)源設(shè)計(jì)
正向偏置時(shí)的VEB電壓不僅包含與溫度相關(guān)的一次項(xiàng),,其中仍含有關(guān)于溫度的非線性項(xiàng),,VEB電壓與溫度的依賴關(guān)系可以表示為[5]:
式中Vg0表示0 K溫度時(shí)三極管的發(fā)射極-基極電壓,約為1 155 mV[5],;VEB(Tr)表示在參考溫度Tr時(shí)三極管的發(fā)射極-基極電壓,,VEB(Tr)與流過(guò)三極管的電流密度有關(guān);η是與工藝相關(guān)的常數(shù),,常取η=4[6],;m是與三極管集電極電流IC相關(guān)的常數(shù),當(dāng)流過(guò)三極管集電極電流為PTAT電流時(shí)m=1,,當(dāng)流過(guò)集電極的電流近似與溫度無(wú)關(guān)時(shí)m=0[6],。因此,,使兩只三極管流過(guò)集電極的電流類型不同時(shí),它們的發(fā)射極-基極的電壓表達(dá)式不同,,二者的差可以用于補(bǔ)償VEB中與溫度相關(guān)的非線性項(xiàng),,從而進(jìn)一步改善基準(zhǔn)電壓的溫度特性。同理,,也可以利用電流補(bǔ)償模式優(yōu)化電壓基準(zhǔn)的溫度特性[7],。
本文提出的基準(zhǔn)電壓電路如圖2所示,設(shè)三極管Q1~Q3的放大倍數(shù)足夠大,,集電極電流IC近似與發(fā)射極電流IE相等,,VB為共柵管提供直流偏置電壓。
圖2中IPTAT電流大小與式(2)相同,,運(yùn)放OP2使Y,、Z兩點(diǎn)的電位相同,即VZ=VY=VEB2,。電流IC2是PTAT電流,,Q2的發(fā)射極-基極電壓VEB2可以表示為:
在參考溫度Tr時(shí),為保證VEB2(Tr)和VEB3(Tr)設(shè)計(jì)相等,,Q3和Q1發(fā)射結(jié)面積之比x應(yīng)滿足:
綜上所述,,INL近似抵消掉VEB中關(guān)于溫度的高階項(xiàng),提高了基準(zhǔn)的溫度特性,。同時(shí),,調(diào)整R3和R4的比值可以在一定范圍內(nèi)改變基準(zhǔn)的輸出電壓。
為了能夠?qū)崿F(xiàn)電流模式下的高精度曲率補(bǔ)償,,基準(zhǔn)電路中需要電流鏡精確匹配,,電流鏡的失配會(huì)導(dǎo)致輸出參考電壓產(chǎn)生一個(gè)較大的誤差[8]。為解決以上問(wèn)題,,該電路采用共源共柵電流鏡結(jié)構(gòu),,同時(shí)使用該結(jié)構(gòu)能夠提高基準(zhǔn)電路的電源抑制(Power Supply Rejection,PSR),。
3 仿真數(shù)據(jù)分析
本文中的電路采用VIS 0.15 μm BCD工藝設(shè)計(jì),,利用Spectre軟件對(duì)設(shè)計(jì)電路性能進(jìn)行仿真。
在電源電壓VDD為1.8 V,,-60 ℃~120 ℃的溫度范圍內(nèi),,電壓基準(zhǔn)輸出仿真結(jié)果如圖3所示。仿真結(jié)果表明,,基準(zhǔn)電壓的平均值為539 mV,,電壓變化范圍為136 μV,溫度系數(shù)TC約為1.40 ppm/℃。
在不同溫度下,,對(duì)電源電壓VDD進(jìn)行直流掃描,,如圖4所示。在室溫情況下,,電源電壓大于1.2 V時(shí),,電路就可以正常工作。但是,,受三極管發(fā)射結(jié)壓降和MOS管源漏兩端電壓的限制,,進(jìn)一步降低該電路的最低工作電壓較難實(shí)現(xiàn)。在環(huán)境溫度為-60 ℃,、27 ℃和120 ℃時(shí),,基準(zhǔn)電壓的線性調(diào)整率分別為0.015 2%、0.001 9%和0.041 9%,。
在tt,、ff、ss三個(gè)不同的工藝角下,,PSR仿真結(jié)果如圖5所示,,在頻率為100 Hz時(shí),輸出基準(zhǔn)電壓的PSR均高于84 dB,,能夠較好地抑制電源波動(dòng)對(duì)基準(zhǔn)電壓的影響,。
在室溫條件下,對(duì)基準(zhǔn)電路的輸出參考電壓進(jìn)行了蒙特卡洛仿真,,500次仿真的統(tǒng)計(jì)結(jié)果如圖6所示,。由圖6可知,基準(zhǔn)電壓的平均值(Mean)為539.168 mV,,標(biāo)準(zhǔn)差(Std Dev)為1.322 5 mV,,工藝偏差系數(shù)Std Dev/Mean為0.245%,該仿真顯示工藝偏差對(duì)基準(zhǔn)電壓分布的影響較小,。
表1是本文提出的電壓基準(zhǔn)電路和部分參考文獻(xiàn)仿真結(jié)果的對(duì)比。從表中數(shù)據(jù)可以看出,,本文設(shè)計(jì)的電路結(jié)構(gòu)在系統(tǒng)電壓波動(dòng),、外界溫度變化時(shí),基準(zhǔn)電壓的穩(wěn)定性更高,。
4 結(jié)論
本文在傳統(tǒng)一階補(bǔ)償?shù)幕A(chǔ)上,,利用三極管發(fā)射極-基極電壓與集電極電流關(guān)系,提出了一種近似補(bǔ)償VEB中與溫度相關(guān)的非線性項(xiàng)的方法,,設(shè)計(jì)了一種與標(biāo)準(zhǔn)CMOS工藝兼容的高精度電壓基準(zhǔn),。基于VIS 0.15 μm BCD工藝,仿真并驗(yàn)證了該電路結(jié)構(gòu)的可行性,。仿真結(jié)果表明,,在-60 ℃~120 ℃范圍內(nèi)該基準(zhǔn)電壓的溫度系數(shù)TC為1.40 ppm/℃;100 Hz時(shí)的電源抑制達(dá)到84 dB,;蒙特卡洛仿真顯示在環(huán)境溫度為27 ℃時(shí),,基準(zhǔn)電壓工藝偏差系數(shù)為0.245%。
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作者信息:
杜 濤1,,蔡紅艷1,梁 科2,,王 錦2,,李國(guó)峰1,2
(1.南開大學(xué)IC設(shè)計(jì)與系統(tǒng)集成實(shí)驗(yàn)室 天津市光電傳感器與傳感網(wǎng)絡(luò)技術(shù)重點(diǎn)實(shí)驗(yàn)室,,天津 300350,;
2.南開大學(xué)IC設(shè)計(jì)與系統(tǒng)集成實(shí)驗(yàn)室 天津市光電子薄膜器件與技術(shù)重點(diǎn)實(shí)驗(yàn)室,天津300350)