TI電源設(shè)計(jì)經(jīng)驗(yàn)談1-50 | |
所屬分類:白皮書 | |
上傳者:zhoubin333 | |
文檔大?。?span>5259 K | |
標(biāo)簽: TI 電源設(shè)計(jì) | |
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文檔介紹:作者介紹: Robert Kollman 現(xiàn)任 TI 高級應(yīng)用經(jīng)理兼科技委員會的資深委員,。他 擁有在電源電子領(lǐng)域超過 30 年的工作經(jīng)驗(yàn),,并為電源電子設(shè)計(jì)了從低功 耗 (sub-watt)到超低功耗 (sub-megawatt) 的磁性元件,工作頻率在兆 赫 茲 范 圍 內(nèi) ,。 Robert 畢 業(yè) 于 得 克 薩 斯 A&M 大 學(xué) (Texas A&M University) ,, 獲 電 子 工 程 理 學(xué) 士 學(xué) 位 , 后 又 畢 業(yè) 于 南 衛(wèi) 理 公 會 大 學(xué) (Southern Methodist University),,獲電子工程碩士學(xué)位,。 | |
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