芯片樣品驗證平臺自適應和同步測試功能的設計與實現(xiàn)
所屬分類：解決方案
上傳者：aetmagazine
文檔大?。?span>4381 K
標簽： 自適應 同步測試 樣品驗證
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文檔介紹：目前，芯片設計公司在對量產(chǎn)級的芯片進行樣品驗證時,，傳統(tǒng)的樣品驗證方法大多是基于芯片自身特點來設計相應的測試設備,，然后通過測試夾具對芯片樣品逐一測試，不同的芯片會設計不同的測試設備,。提出了一種自適應且可同步測試的樣品驗證平臺方案,，既可以實現(xiàn)同時測試多顆芯片，也可以對不同接口的芯片進行測試,；既可以進行可靠性實驗測試,，也可以進行其他功能的測試，大大節(jié)省了測試設備的維護成本,，提高測試效率,。
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