基于FCM flow的小規(guī)模數(shù)字電路芯片測試
所屬分類：技術(shù)論文
上傳者：zhoubin333
文檔大?。?span>1402 K
標(biāo)簽： DFT 覆蓋率 Verisium manager
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文檔介紹：隨著芯片工藝的不斷演進，數(shù)字芯片的規(guī)模急劇增加，測試成本進一步增加,。目前先進的DFT技術(shù)已應(yīng)用于大規(guī)模SoC芯片的測試,，包括掃描路徑設(shè)計,、JTAG,、ATPG（自動測試向量生成）等。但對于一些小規(guī)模集成電路,，插入掃描鏈等測試電路會增加芯片面積并增加額外的功耗,。對于這種芯片，功能case生成的pattern可用于檢測制造缺陷和故障,。因此,，需要一些方法來驗證覆蓋率是否達到了目標(biāo)。Verisium manager工具依靠Xcelium的故障仿真引擎和Jasper功能安全驗證應(yīng)用程序（FSV）可以解決這個問題,。它為 ATE（自動測試設(shè)備）pattern的覆蓋率分析提供了一個新的思路,。
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