Flash型ADC測試指南第一部分 | |
所屬分類:技術(shù)論文 | |
上傳者:ADI | |
文檔大?。?span>994 K | |
標(biāo)簽: 數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)換 | |
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文檔介紹:為了利用Flash型ADC的高采樣速率構(gòu)建高性能電路,,需要了解這種轉(zhuǎn)換器的許多奧妙之處,。本系列文章分為三部分,第一部分討論Flash型ADC設(shè)計易犯的錯誤,,如何評估數(shù)據(jù)手冊的某些性能指標(biāo),,以及如何選擇與所用特定轉(zhuǎn)換器配套的外部器件。第二部分和第三部分討論用來在系統(tǒng)中驗證轉(zhuǎn)換器性能的測試與測量方法,。 | |
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