1 RAM測試方法回顧

　　(1)方法1

　　參考文獻(xiàn)中給出了一種測試系統(tǒng)RAM的方法。該方法是分兩步來檢查,，先后向整個數(shù)據(jù)區(qū)送入#00H和#FFH,，再先后讀出進(jìn)行比較，若不一樣,，則說明出錯,。

　　(2)方法2

　　方法1并不能完全檢查出RAM的錯誤，在參考文獻(xiàn)中分析介紹了一種進(jìn)行RAM檢測的標(biāo)準(zhǔn)算法MARCH—G,。MARCH一G算法能夠提供非常出色的故障覆蓋率,，但是所需要的測試時間是很大的。MARCH—G算法需要對全地址空間遍歷3次,。設(shè)地址線為”根,，則CPU需對RAM訪問6×2n次。

　　(3)方法3

　　參考文獻(xiàn)中給出了一種通過地址信號移位來完成測試的方法,。在地址信號為全O的基礎(chǔ)上,，每次只使地址線Ai的信號取反一次，同時保持其他非檢測地址線Aj(i≠j)的信號維持0不變,，這樣從低位向高位逐位進(jìn)行；接著在地址信號為全1的基礎(chǔ)上,，每次只使地址線Ai的信號取反一次,，同時保持其他非檢測地址線Aj(i≠j)的信號維持1不變,，同樣從低位向高位逐位進(jìn)行。因此地址信號的移位其實(shí)就是按照2K(K為整數(shù),，最大值為地址總線的寬度)非線性尋址,，整個所需的地址范圍可以看成是以全0和全1為背景再通過移位產(chǎn)生的。在地址變化的同時給相應(yīng)的存儲單元寫入不同的偽隨機(jī)數(shù)據(jù),。在以上的寫單元操作完成后,，再倒序地將地址信號移位讀出所寫入的偽隨機(jī)數(shù)據(jù)并進(jìn)行檢測。設(shè)地址線為n根,，則CPU只對系統(tǒng)RAM中的2n+2個存儲單元進(jìn)行訪問,。

　　2 基于種子和逐位倒轉(zhuǎn)的RAM測試方法

　　基于種子和逐位倒轉(zhuǎn)的測試方法是在方法3的基礎(chǔ)上進(jìn)一步改進(jìn)獲得的。方法3主要是使用全O和全1兩個背景數(shù)來移位展開的,，與MARCH—G算法相比獲得的故障覆蓋率稍微低些,，但使用了較少的地址單元。這里我們把方法3中的背景數(shù)稱為“種子”,。以地址線為8根的RAM為例,，種子分別取00000000和11111111兩個數(shù)，取00000000,、11111111,、0000llll和llll0000四個數(shù)，以及取00000000,、11111111,、00001111、11110000,、00110011,、1100llOO、01010101和10101010八個數(shù)來移位展開測試,，所達(dá)到的故障覆蓋率是不一樣的,。種子數(shù)為2的改進(jìn)方法要低于MARCH—G算法的故障覆蓋率，種子數(shù)為4的改進(jìn)方法與MARCH—G算法相當(dāng),，種子數(shù)為8的改進(jìn)方法能夠超過MARCH—G算法的效果,。整體上基于種子和逐位倒轉(zhuǎn)的改進(jìn)方法是可以代替MARCH—G算法的，但是種子數(shù)目不同所需要的尋址次數(shù)也是不同的,。設(shè)地址線為n根,，種子數(shù)為2時需要訪問RAM共計(jì)4”+4次，種子數(shù)為4時需要訪問RAM共計(jì)8n+8次,，種子數(shù)為8時需要訪問RAM共計(jì)16n+16次,，而MARCH—G算法需要訪問RAM共計(jì)6×2n次?？梢?，基于種子和逐位倒轉(zhuǎn)的改進(jìn)方法比MARCH—G算法的測試時間開銷大大降低,。同時，故障覆蓋率會隨著種子數(shù)目的增加而提高,，當(dāng)然不同種子數(shù)時所需要的測試時間開銷也不同,。在實(shí)際測試應(yīng)用中要根據(jù)測試時間和測試故障覆蓋率的需求來選擇合適的種子數(shù)目，才能達(dá)到滿意的效果,。

　　3 結(jié) 語

　　本文介紹了單片機(jī)系統(tǒng)RAM測試的一般方法,，并在原有基礎(chǔ)上提出了一種基于種子和逐位倒轉(zhuǎn)的RAM故障測試方法。它具有診斷耗時短,、故障覆蓋率高的特點(diǎn),，因而有著很高的應(yīng)用價值。