基于芯片封裝的微系統(tǒng)模塊PDN設(shè)計優(yōu)化 | |
所屬分類:技術(shù)論文 | |
上傳者:aetmagazine | |
文檔大?。?span>6652 K | |
標(biāo)簽: TSV HTCC 微系統(tǒng) | |
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文檔介紹:隨著IC芯片的供電電源趨向低電壓以及大電流,,基于2.5D硅通孔技術(shù)(Through-Silicon-Via,,TSV)、倒扣焊,、高溫共燒陶瓷(High Temperature Co-fired Ceramics,,HTCC)、3D堆疊等的微系統(tǒng)模塊的電源分配系統(tǒng)(Power Delivery Network,,PDN)的設(shè)計越來越重要,。芯片電流經(jīng)過PDN互連產(chǎn)生輸出噪聲,,這些互連必須提供一個較優(yōu)低阻抗的信號返回路徑,保持芯片焊盤間恒定的供電電壓且維持在一個很小的容差范圍內(nèi),,通常在5%以內(nèi),。基于芯片封裝系統(tǒng)(Chip Package System,, CPS),,結(jié)合TSV硅基板、HTCC管殼,、PCB三級協(xié)同對微系統(tǒng)模塊PDN提出設(shè)計及優(yōu)化方法,,從直流設(shè)計、交流阻抗設(shè)計分別進行闡述,,并運用芯片電源模型 (Chip Power Model,, CPM),結(jié)合時域分析實現(xiàn)了電源紋波PDN低阻抗設(shè)計,。 | |
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