一種面向SoC的全方位系統(tǒng)監(jiān)測(cè)驗(yàn)證方案
所屬分類：技術(shù)論文
上傳者：zhoubin333
文檔大?。?span>3868 K
標(biāo)簽： SOC 監(jiān)測(cè) UVM
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文檔介紹：伴隨著目前SoC尺寸和復(fù)雜度的迅速增加,，如何在系統(tǒng)層面實(shí)施充分完善的驗(yàn)證成為了一項(xiàng)重要挑戰(zhàn),。棘手的工作不但來自于對(duì)系統(tǒng)層面各項(xiàng)硬件資源的調(diào)度和測(cè)試場(chǎng)景實(shí)現(xiàn)，也來自于如何從復(fù)雜的系統(tǒng)運(yùn)行中獲得有用的信息,。為了讓驗(yàn)證人員在仿真過程中及時(shí)掌握系統(tǒng)信息,，提出一種面向SoC的全方位系統(tǒng)監(jiān)測(cè)驗(yàn)證方案,，基于UVM框架可以實(shí)時(shí)獲得多種系統(tǒng)狀態(tài)信息,。該方案也是基于一種自動(dòng)化的驗(yàn)證平臺(tái)并在此之上將監(jiān)測(cè)到的信息做了處理，以用來輔助驗(yàn)證人員更好地分析系統(tǒng)和定位問題,。
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