基于ADS的微系統(tǒng)電源完整性仿真及優(yōu)化
所屬分類：技術(shù)論文
上傳者：wwei
文檔大?。?span>4441 K
標(biāo)簽： 電源完整性 電源分配網(wǎng)絡(luò) 阻抗
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文檔介紹：隨著芯片制造技術(shù)和封裝技術(shù)的發(fā)展,，電子產(chǎn)品內(nèi)部的器件集成度和信號速度在持續(xù)提高,，微系統(tǒng)成為一種新興的形式,，這導(dǎo)致了對電源完整性的要求不斷提高,。不合理的電源完整性設(shè)計將會給電源質(zhì)量和信號質(zhì)量帶來極大的干擾,，甚至?xí)瓜到y(tǒng)崩潰,。針對所設(shè)計的多芯片微系統(tǒng)設(shè)計進(jìn)行了電源完整性的仿真,，并利用基板、PCB去耦電容網(wǎng)絡(luò)協(xié)同去耦的方式對電源分配網(wǎng)絡(luò)阻抗進(jìn)行了優(yōu)化,，解決了微系統(tǒng)內(nèi)部的空間有限與去耦電容需求量大的矛盾,，保證了微系統(tǒng)的電源完整性。
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