AN-397:標準線性集成電路的電誘發(fā)損壞:最常見起因和防止再發(fā)生的相關處理 | |
所屬分類:解決方案 | |
上傳者:ADI | |
文檔大?。?span>498 K | |
標簽: 信號調理 | |
所需積分:0分積分不夠怎么辦,? | |
文檔介紹:電子器件對瞬態(tài)電氣過應力事件的靈敏度是眾所周知的問 題,,隨著集成電路的不斷發(fā)展,,這一問題日益嚴重。幾何 尺寸縮小,,電路密度增加和分配給片內保護的面積有限都 會使此靈敏度趨于增加,。為了將每一特定系統(tǒng)實施環(huán)節(jié)的 成本降至最低,瞬態(tài)保護的任務往往轉而采用其它效率更 低的方式,。 | |
現(xiàn)在下載 | |
VIP會員,,AET專家下載不扣分;重復下載不扣分,,本人上傳資源不扣分,。 |
Copyright ? 2005-2024 華北計算機系統(tǒng)工程研究所版權所有 京ICP備10017138號-2