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KLA-TENCOR 推出磁盤驅(qū)動(dòng)器基片和盤片缺陷檢查的新技術(shù)

2008-09-26
作者:KLA-Tencor公司
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kla-tencor" title="kla-tencor">kla-tencor.com/">KLA-Tencor 公司納斯達(dá)克" title="納斯達(dá)克">納斯達(dá)克股票代碼KLAC今天針對(duì)硬盤驅(qū)動(dòng)器基片" title="基片">基片與盤片高級(jí)缺陷檢查推出了 Candela 7100 系列,。7100 系列建立在備受肯定且已量產(chǎn)化的 Candela 產(chǎn)品線基礎(chǔ)上,,專為幫助制造商識(shí)別與分類諸如凹陷,、凸起、微粒及隱藏缺陷等亞微米級(jí)關(guān)鍵缺陷而設(shè)計(jì),,可以提升良率降低檢測的總成本,。?

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KLA-Tencor 成長與新興市場 (GEM) 集團(tuán)副總裁 Jeff Donnelly 表示:“Candela 7100 系列是我們光學(xué)表面分析技術(shù)的一個(gè)創(chuàng)新延伸,,作為缺陷檢測與分類的創(chuàng)紀(jì)錄工具深獲客戶認(rèn)同,。憑借更高的靈敏度和分類能力,,7100 系列的一體化解決方案旨在減少對(duì)其它工具的依賴性降低我們客戶的成本并縮短他們獲得成果的時(shí)間,。? ?

表面積儲(chǔ)存單位密度的持續(xù)增長推動(dòng)了對(duì)更低表面污染水平,、更平滑的磁盤表面、對(duì)更小缺陷尺寸的更強(qiáng)靈敏度的需求,,以及提早在制程中控制特定缺陷類型的重要性,。此外,隨著磁記錄頭飛行高度的降低,,微小缺陷如今對(duì)良率" title="良率">良率的影響也越來越大,。Candela 7100 系列擁有業(yè)界領(lǐng)先的靈敏度堪為應(yīng)對(duì)這些業(yè)界挑戰(zhàn)的理想解決方案,。?

硬盤驅(qū)動(dòng)器行業(yè)要不斷滿足客戶對(duì)更高性價(jià)比的需求,,因此制造商必須要以更快的時(shí)間獲得成果,采取在統(tǒng)計(jì)學(xué)上更有效的決策,,同時(shí)保持成本競爭優(yōu)勢(shì),。Candela 7100 降低了對(duì)眾多非生產(chǎn)工具與方法的依賴性例如原子力,、掃描電子與透射電子顯微鏡,,以及電性測試。目前需要在眾多檢測工具上進(jìn)行的分析,,現(xiàn)在都可在單獨(dú)一臺(tái)機(jī)器上以更快的速度和更低的成本完成,。 ?

Candela 7100 系列正在接受領(lǐng)先存儲(chǔ)技術(shù)" title="存儲(chǔ)技術(shù)">存儲(chǔ)技術(shù)公司日立環(huán)球存儲(chǔ)技術(shù)公司 (HGST) 的認(rèn)證。?

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KLA-Tencor 目前正在接受產(chǎn)品訂單,。出貨計(jì)劃在十月份開始,。?

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9 17-18 日在加州圣克拉拉縣圣克拉拉會(huì)展中心舉行的 DISKCON USA 2008 展覽會(huì)上KLA-Tencor 還將在第 115 號(hào)展位展出 Candela 7100 系列,,以及為數(shù)據(jù)存儲(chǔ)行業(yè)提供的其它良率管理解決方案,。?

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關(guān)于 KLA-TencorKLA-Tencor 是為半導(dǎo)體制造及相關(guān)行業(yè)提供良率管理和制程控制解決方案的全球領(lǐng)先企業(yè)。該公司總部設(shè)在美國加州的米爾皮塔斯,,銷售及服務(wù)網(wǎng)絡(luò)遍布全球,。KLA-Tencor 躋身于標(biāo)準(zhǔn)普爾 500 強(qiáng)公司之一并在納斯達(dá)克全球精選市場上市交易,,其股票代碼為 KLAC,。有關(guān)該公司的更多信息請(qǐng)?jiān)L問 http://www.kla-tencor.com,。?

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Candela 7100 技術(shù)摘要?

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此創(chuàng)新技術(shù)代表了 KLA-Tencor 對(duì)數(shù)據(jù)存儲(chǔ)市場的不斷投入,,并顯示出公司將來向下一代圖形化介質(zhì)需求延伸的進(jìn)展。Candela 7100 系列的新特性包括?

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o???????? 一個(gè)新的雙波長激光配置,,經(jīng)過優(yōu)化,,可以獲得更高的靈敏度、在基于層的功耗模式方面應(yīng)用設(shè)置的更高靈活性以及更佳的激光輸出與穩(wěn)定性?

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o???????? 多個(gè)獨(dú)立的散射檢測儀,,可以提供檢測與分類諸如凹陷,、凸起、微粒及隱藏缺陷等亞微米級(jí)缺陷的能力?

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o???????? 改善的相位,、光與磁通道捕捉瑕疵及反映高級(jí)垂直磁記錄 (PMR) 表面提供了更高的靈敏度與穩(wěn)?

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