基于SiP技術(shù)的某分組件及測試系統(tǒng)設(shè)計(jì)與實(shí)現(xiàn) | |
所屬分類:技術(shù)論文 | |
上傳者:aetmagazine | |
文檔大?。?span>843 K | |
標(biāo)簽: SiP技術(shù) 自動(dòng)化測試 分組件 | |
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文檔介紹:系統(tǒng)級(jí)封裝SiP已成為突破摩爾定律的主要技術(shù)路線,,是未來武器裝備小型化和多功能化的重要依托,,在武器裝備研制和應(yīng)用領(lǐng)域具有廣闊的市場和前景,。針對(duì)區(qū)域信號(hào)目標(biāo)識(shí)別系統(tǒng)輕量化、小型化,、集成化、低功耗等要求,,設(shè)計(jì)一種基于SiP技術(shù)的某分組件并為此開發(fā)一套自動(dòng)化測試系統(tǒng),通過該自動(dòng)化測試系統(tǒng)對(duì)200多套產(chǎn)品進(jìn)行試驗(yàn),,得出該產(chǎn)品性能穩(wěn)定,、可靠,;輕量化,、小型化、低功耗等要求也滿足客戶要求,。 | |
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