一種片上嵌入式Flash測試接口的設(shè)計
所屬分類：技術(shù)論文
上傳者：aetmagazine
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標(biāo)簽： Flash 測試接口 測試速度
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文檔介紹：Flash存儲器具有功耗低,、存儲容量大,、體積小等特點,被廣泛應(yīng)用于嵌入式系統(tǒng),。目前Flash存儲器多數(shù)使用串行接口進(jìn)行擦寫測試，存在著測試效率低,、測試成本高等問題,。針對以上問題，設(shè)計并實現(xiàn)了一種片上嵌入式Flash的測試接口,。結(jié)合片上嵌入式Flash的接口特點和時序要求,，設(shè)計了基于多線SPI的測試接口，并在確保穩(wěn)定性的情況下實現(xiàn)了對多塊Flash存儲器并行測試的設(shè)計,，提高了測試速度,。通過NCverilog仿真結(jié)果表明，該設(shè)計有效縮短了測試時間,，達(dá)到了測試要求,，并成功應(yīng)用于一款32位浮點微處理器中。
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