eFuse失效分析與可靠性電路設計
所屬分類：技術論文
上傳者：aetmagazine
文檔大?。?span>3783 K
標簽： eFuse 可靠性 失效模式
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文檔介紹：電編程熔絲（eFuse）基于電子遷移原理,，通過熔斷熔絲使其電阻特性發(fā)生不可逆改變來實現(xiàn)編程操作,。提高可靠性是eFuse系統(tǒng)和電路優(yōu)化設計的核心目標,。從eFuse工作原理以及失效模式分析入手,，重點介紹了影響其可靠性的系統(tǒng)原因和主要機理及過程,，并在綜合常規(guī)電路設計基礎上,，結(jié)合考慮各種工作模式下和具體模塊中存在的影響可靠性的因素,，最后提出了具有針對性的電路設計解決方案,。
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