頭條 從燃油車向電動車邁進：開啟電動出行的新時代 汽車行業(yè)在從燃油車向電動車轉(zhuǎn)型的道路上正面臨重重挑戰(zhàn),。消費者的購買意愿有所減弱,，高昂的電池更換費用以及公共充電基礎(chǔ)設(shè)施的不健全等等,，這些顧慮讓消費者望而卻步。因此,，汽車行業(yè)必須克服這些挑戰(zhàn),，才能推動交通出行領(lǐng)域的低碳化轉(zhuǎn)型，進而為整個經(jīng)濟社會帶來裨益。 加速電動出行時代的到來 最新資訊 基于A/D和DSP的高速數(shù)據(jù)采集技術(shù) 中頻信號分為和差兩路,高速A／D與DSP組成的數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)要分別對這兩路信號進行采集,。對于兩路數(shù)據(jù)采集電路,A／D與DSP的接口連接是一樣的。兩個A／D同時將和路與差路信號采樣,并分別送入兩個FIFO;DSP分時從兩個FIFO中讀出采集的數(shù)據(jù),完成數(shù)據(jù)的采集,。 發(fā)表于：1/4/2011 基于GPS的路線測量與擬合 本文以機車轉(zhuǎn)向燈課題為背景,，介紹了GPS測繪路線的過程，著重闡述了道路路線的ＧＰＳ數(shù)據(jù)采集方式以及三次樣條插值方法在路線擬合中的應(yīng)用,。 發(fā)表于：1/3/2011 利用虛擬儀器設(shè)計的網(wǎng)絡(luò)化溫室測控系統(tǒng) 為了實現(xiàn)對溫室環(huán)境的網(wǎng)絡(luò)協(xié)同監(jiān)控,，將虛擬儀器技術(shù)和網(wǎng)絡(luò)技術(shù)有機的結(jié)合起來，在虛擬儀器開發(fā)平臺—LabVIEW7.1上設(shè)計了一套基于Datasocket的網(wǎng)絡(luò)化溫室測控系統(tǒng),。本文詳細介紹了該系統(tǒng)的硬件,、軟件組成和遠程監(jiān)控的實現(xiàn)方法。 發(fā)表于：1/3/2011 多芯電纜測試儀的研制 本文設(shè)計出一種采用51單片機和CPLD實現(xiàn)對多芯電纜線準確,、高效,、便捷測量的儀器。該儀器可快速對多芯電纜進行離線檢測,，準確測量電纜的通斷和耐壓絕緣阻值,，實時顯示測試結(jié)果。樣機運行結(jié)果表明,，該儀器具有操作簡單,，運行可靠，測試精度高等特點,。 發(fā)表于：1/3/2011 采用熱偶及2182A型納伏表的微熱量測量系統(tǒng) 微熱量測量用來決定各種能量關(guān)系,。在進行小尺寸樣品或者慢加熱速率的量熱學實驗時，常常需要使用微熱量測量技術(shù),。根據(jù)具體的應(yīng)用情況,，微量熱計的設(shè)計可能有很大的變化，并且很多都是用戶自己設(shè)計制造的,。在進行測試時,，各種熱量測量技術(shù)使用戶能夠測量小的溫度變化。微熱量測量實驗可能要求測量低達100μ℃的溫度變化,。本文介紹兩種溫度傳感器和采用熱偶及2182A型納伏表的微熱量測量系統(tǒng),。 發(fā)表于：1/2/2011 測試檢驗電路時序的FPGA邏輯驗證分析儀 隨著FPGA技術(shù)的廣泛使用，越來越需要一臺能夠測試驗證FPGA芯片中所下載電路邏輯時序是否正確的儀器,。目前,，雖然Agilent、Tektronix 等大公司生產(chǎn)的高端邏輯分析儀能夠?qū)崿F(xiàn)FPGA電路的測試驗證功能,，但此類儀器價格高昂,，一般要十萬、數(shù)十萬人民幣。所以,，研究開發(fā)價格適中且具有邏輯分析儀和FPGA電路的測試驗證功能的儀器是非常有價值的,。 發(fā)表于：1/2/2011 一種基于FM20L08的溫度測試儀 采用了一種新型的鐵電存儲器FM20L08, 介紹了它的性能、特點,、與現(xiàn)有其他存儲器的不同之處, 并在此基礎(chǔ)上開發(fā)了FM20L08溫度測試儀,有針對性地給出了硬件和軟件的設(shè)計細節(jié)和流程圖,。 發(fā)表于：1/2/2011 如何利用7011-S卡測量電容 電容測量被用于驗證電容器滿足廠家的指數(shù)指標。在進行質(zhì)量控制時,，可能會將一組電容器置于一個環(huán)境艙中,，并測量每個電容器的電容。多個開關(guān)將電容器連接至電容計,。 發(fā)表于：1/2/2011 ASA測試技術(shù)在電路維修測試儀上的應(yīng)用 ASA(VI曲線)測試是電路在線維修測試儀上最重要的測試功能之一,。本文簡單的介紹了ASA測試的原理。主要圍繞著故障檢出率,、測試可靠性,、使用效率等方面，介紹了如何在電路維修測試儀上高水平地實現(xiàn)ASA測試技術(shù),。本文對評價在線維修測試儀產(chǎn)品,、更好的掌握此項測試技術(shù)，有較大參考價值,。 發(fā)表于：1/2/2011 二極管泄漏電流以及MOSFET的亞閾區(qū)電流的測量 測試半導體器件和晶圓片（Wafer）常常要涉及到測量小電流,。其中有些測試工作包括各種泄漏電流的測量。另一些對于晶圓片級半導體的弱電流測量則通常與介電材料（氧化物或化合物）的質(zhì)量有關(guān),。這些弱電流測量工作常常使用靜電計或源-測量單元,。本文將介紹使用源-測量單元測量二極管的泄漏電流以及MOSFET的亞閾區(qū)電流（sub-thresh old current）。 發(fā)表于：1/1/2011 ?…509510511512513514515516517518…?
