中央處理器安全測(cè)試與自修復(fù)技術(shù)研究 | |
所屬分類:技術(shù)論文 | |
上傳者:aetmagazine | |
文檔大小:635 K | |
標(biāo)簽: 中央處理器 故障注入 安全測(cè)試 | |
所需積分:0分積分不夠怎么辦,? | |
文檔介紹:中央處理器在工業(yè)控制領(lǐng)域起到重要作用,,其正常工作是工業(yè)控制中的重要穩(wěn)定運(yùn)行保障,。主要研究中央處理器的安全測(cè)試與自修復(fù)相關(guān)技術(shù)。從故障注入到故障測(cè)試再到自修復(fù),,對(duì)相關(guān)安全技術(shù)作了比較介紹與分類總結(jié),,包括硬軟件的故障注入技術(shù)、掃描鏈,、內(nèi)建自測(cè)試,、TSV等故障測(cè)試方法,,以及以替代修復(fù)和容錯(cuò)自修復(fù)技術(shù)。最后提出中央處理器安全協(xié)同模型,,對(duì)各個(gè)技術(shù)的基本原理和創(chuàng)新點(diǎn)做出歸納總結(jié),,為未來中央處理器的故障處理技術(shù)發(fā)展提供安全設(shè)計(jì)全參考,在保證安全和性能的同時(shí)降低成本和能耗,,助力工控設(shè)備安全穩(wěn)定運(yùn)行,。 | |
現(xiàn)在下載 | |
VIP會(huì)員,AET專家下載不扣分,;重復(fù)下載不扣分,,本人上傳資源不扣分。 |
Copyright ? 2005-2024 華北計(jì)算機(jī)系統(tǒng)工程研究所版權(quán)所有 京ICP備10017138號(hào)-2