基于JTAG的高效調(diào)試系統(tǒng)設(shè)計與實現(xiàn)
所屬分類：技術(shù)論文
上傳者：zhoubin333
文檔大?。?span>3530 K
標簽： 調(diào)試系統(tǒng) JTAG接口 IEEE1149.1
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文檔介紹：為了給自研處理器芯片提供一種高效方便的調(diào)試方法,，提出了一種基于JTAG的片內(nèi)調(diào)試系統(tǒng)設(shè)計方法。該調(diào)試系統(tǒng)在遵循JTAG標準協(xié)議的基礎(chǔ)上,，簡化片內(nèi)調(diào)試硬件模式設(shè)計,，以較少的硬件開銷和精簡高效的專用調(diào)試指令設(shè)計,，不僅實現(xiàn)了調(diào)試中斷,、指令/數(shù)據(jù)斷點設(shè)置,、單步執(zhí)行及寄存器/存儲器數(shù)據(jù)讀寫等基本調(diào)試功能，還支持現(xiàn)場保護與恢復,、Trace Buffer,、指令插入執(zhí)行等高級調(diào)試功能。經(jīng)實際芯片測試證明,，該調(diào)試系統(tǒng)具有兼容JTAG協(xié)議,、功能全面,、靈活高效,、結(jié)構(gòu)簡單、便于操作等特點,。
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